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晶圆探针卡,晶圆测试探针卡

探针卡(probe card)是晶圆测试(wafer test)中被测芯片(chip)和测试
探针卡(probe card)是晶圆测试(wafer test)中被测芯片(chip)和测试支持12英寸晶圆片的一次性接触.  vc系列是最适用于闪存测定的探针卡.
支持12英寸晶圆片的一次性接触. vc系列是最适用于闪存测定的探针卡.悬臂式探针卡
悬臂式探针卡测试中,当钨探针针头接触到晶圆衬垫时,探针卡的平台会给出上升标准
测试中,当钨探针针头接触到晶圆衬垫时,探针卡的平台会给出上升标准悬臂式探针卡7
悬臂式探针卡7
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