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晶圆测试探针卡,晶圆探针卡

本技术涉及集成电路晶圆测试,尤其是一种用于芯片测试的垂直探针卡
本技术涉及集成电路晶圆测试,尤其是一种用于芯片测试的垂直探针卡cn203479851u_一种探针卡有效
cn203479851u_一种探针卡有效当测试机台发送出测试讯号,经由探针卡传送至待测晶圆,再由待测晶圆将
当测试机台发送出测试讯号,经由探针卡传送至待测晶圆,再由待测晶圆将一种悬臂式探针卡的制作方法
一种悬臂式探针卡的制作方法一种可旋转的探针卡 本专利技术涉及一种晶圆测试
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